測(cè)厚的方法很多，除了常規(guī)的機(jī)械方法（卡尺、千分尺等）外，還有其他一些方法，如超聲波測(cè)量、射線測(cè)厚、磁性測(cè)厚、電流法測(cè)厚等。這些方法中，對(duì)于目前檢驗(yàn)應(yīng)用Z廣的是超聲波測(cè)厚。因?yàn)楦呔瘸暡y(cè)厚儀體積小，質(zhì)量輕，速度快，精度高，攜帶使用方便。檢驗(yàn)人員有時(shí)可立刻判斷所測(cè)設(shè)備可否繼續(xù)使用。

 

　　高精度超聲波測(cè)厚儀及探頭的選擇：

　　高精度超聲波測(cè)厚儀的精度應(yīng)達(dá)到±（T%+0.1）mm，T為壁厚。超聲測(cè)厚通常采用直接接觸式單晶直探頭，也可采用帶延遲的單晶直探頭和雙晶直探頭。在測(cè)量時(shí)，應(yīng)首先了解所測(cè)物體的使用狀態(tài)、樣式等特點(diǎn)，從而具體選擇探頭。高溫壁厚測(cè)定需用高溫探頭。由于材料溫度不同時(shí)聲速也不同，在高溫時(shí)聲速變小，故測(cè)厚值偏大。據(jù)報(bào)道，在高溫探頭可測(cè)的上限溫度約500℃，測(cè)厚值可偏大20%。對(duì)于曲率半徑較小或內(nèi)表面有大量點(diǎn)蝕的管道，應(yīng)采用小直徑探頭測(cè)定或用超聲波探傷儀進(jìn)行輔助測(cè)定。

 

　　高精度超聲波測(cè)厚儀的校正：

　　用高精度超聲波測(cè)厚儀測(cè)厚前，要先校準(zhǔn)儀器的下限和線性。儀器的測(cè)量下限要用一塊厚度為下限的試塊來校準(zhǔn)。如已知材料聲速，可預(yù)先調(diào)好聲速值，然后在儀器附帶的試塊上，調(diào)節(jié)“校準(zhǔn)鍵”按鈕，儀器即調(diào)試完畢。我們?cè)趯?shí)際使用中發(fā)現(xiàn)，使用不同品牌的測(cè)厚儀，其產(chǎn)品附帶的試塊的厚度大多各不相同，現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)時(shí)應(yīng)注意標(biāo)準(zhǔn)試塊的厚度不要記錯(cuò)了，以免調(diào)錯(cuò)了基準(zhǔn)值。

　　高精度超聲波測(cè)厚儀附帶的試塊，一般厚度較小，當(dāng)需要的厚度與之偏離較大時(shí)，還應(yīng)用臺(tái)階試塊（一般測(cè)厚儀出廠時(shí)，都附帶），分別在厚度接近待測(cè)厚度的最大值和待測(cè)厚度最小值（或待測(cè)厚度最大值的二分之一）進(jìn)行校正。